DIN EN 62479 / VDE 0848-479

Beurteilung der Übereinstimmung von elektronischen und elektrischen Geräten kleiner Leistung mit den Basisgrenzwerten für die Sicherheit von Personen in elektromagnetischen Feldern (10 MHz bis 300 GHz)

Die DIN EN IEC 62479 ist eine Norm zur Bewertung der Konformität von Niedrigleistungsgeräten mit Grenzwerten für die Exposition gegenüber elektromagnetischen Feldern (EMF).

Zweck: Vereinfachte Konformitätsbewertung von elektrischen/elektronischen Geräten geringer Leistung (10 MHz bis 300 GHz) hinsichtlich EMF-Grenzwerten.

Anwendungsbereich: Geräte mit geringer Sendeleistung (z. B. IoT-Sensoren, Wearables, Kleinstsender), für die keine produktspezifischen Normen existieren.

Prüfungen:

  • Bestimmung des „Low-Power Exclusion Level“: Ein Grenzwert für die maximale abgestrahlte Leistung, unterhalb dessen keine weiterführende EMF-Bewertung erforderlich ist.

  • Berechnung oder Messung der Verfügbaren Antennenleistung oder durchschnittlichen Gesamtabstrahlleistung.

  • Bei Überschreitung des Ausschlussniveaus: Anwendung anderer Normen (z. B. DIN EN IEC 62311).

  • Dokumentation: Angabe der verwendeten Methoden, Unsicherheitsanalyse und Konformitätserklärung.

  • Besonderheiten: Berücksichtigung von gepulsten Feldern und körpernahen Anwendungen (siehe Anhang B).

Inhalt, Anwendungsbereich und Prüfungen:

Inhalt der Norm:

Die DIN EN IEC 62479 bietet ein vereinfachtes Verfahren zur Konformitätsbewertung von Geräten mit geringer Leistungsabgabe. Sie definiert einen „Low-Power Exclusion Level“ (Ausschlussgrenzwert), der auf Basis der spezifischen Absorptionsrate (SAR) oder Leistungsdichte abgeleitet wird. Geräte, deren abgestrahlte Leistung unter diesem Grenzwert liegt, gelten automatisch als konform und benötigen keine weitere EMF-Bewertung.

Die Norm umfasst:

  • Berechnungsmethoden: Mathematische Modelle zur Bestimmung der maximalen abgestrahlten Leistung unter Referenzbedingungen.

  • Messverfahren: Praktische Messungen der E-Feld- und H-Feld-Stärken in definierten Abständen.

  • Anpassungen für Sonderfälle: Gepulste Felder: Zeitgemittelte Bewertung der Exposition. Körpernahe Anwendungen: Anpassung des Ausschlussniveaus für Geräte, die weniger als 20 cm vom Körper betrieben werden (z. B. Smartwatches).

Anwendungsbereich:

Die Norm gilt für:

  • Frequenzbereich: 10 MHz bis 300 GHz (z. B. Bluetooth, WLAN, 5G-Millimeterwellen).

  • Gerätekategorien: Niedrigleistungsgeräte mit einer Sendeleistung unter 50 mW (z. B. RFID-Tags, medizinische Sensoren). Unbeabsichtigte Strahler wie Schaltnetzteile oder Mikrocontroller.

  • Ausnahmen: Hochleistungsgeräte (z. B. Mobilfunkbasisstationen) unterliegen produktspezifischen Normen wie IEC 62232.

Durchzuführende Prüfungen:

Prüfbedingungen:

  • Betriebszustände: Tests unter maximaler Sendeleistung und realistischen Nutzungsszenarien.

  • Umgebung: Standardisierte Laborbedingungen (Temperatur: 23 ±5 °C, Luftfeuchtigkeit: 30–60 %).

Probenvorbereitung:

  • Gerätekonfiguration: Prüfung in Serienausführung, ggf. mit Antennen oder Zubehör.

  • Messabstand: Typischerweise 20 cm für körperferne und 5 cm für körpernahe Anwendungen1.

Auswertung:

  • Vergleich mit Grenzwerten: Bei Unterschreitung des berechneten PmaxPmax ist das Gerät konform.

Dokumentation:

  • Prüfbericht: Enthält Messmethoden, Gerätespezifikationen, Unsicherheitsanalyse (standardmäßig ±30 %) und Konformitätserklärung.

  • Nachweis der Wiederholbarkeit: Angabe der Messgerätekalibrierung und Testumgebungsbedingungen.

Alternative Normen:

  1. IEC 62311: Generische EMF-Bewertung für Geräte außerhalb des Niedrigleistungsbereichs.

  2. EN 50371: Vorgängernorm zur DIN EN IEC 62479 (ersetzt durch EN 62479:2010).

  3. IEC 62232: Bewertung der Exposition durch Funkbasisstationen.

  4. ICNIRP-Richtlinien: International anerkannte Grenzwerte für EMF-Exposition.

  5. IEC 62477-1: Sicherheitsanforderungen für leistungselektronische Systeme.


Sie suchen kein Prüflabor? Wenn Sie nur diese Norm herunterladen möchten, erfahren Sie hier mehr:

Prüfnormen und andere Normen online herunterladen

testxchange Magazin